二次元影像測量儀測量原理
二次元影像測量儀是屬于高精密測量檢測儀器，二次元影像測量儀是建立在CCD數位影像的基礎上，依托于計算機屏幕測量技術和空間幾何運算的強大軟件能力而產生的。計算機在安裝上控制與圖形測量軟件后，變成了具有軟件靈魂的測量大腦，是整個設備的主體。
1、基本測量原則
在實際測量中，對于同一被測量往往可以采用多種測量方法。為減小測量不確定度，應盡可能遵守以下基本測量原則：
（1）阿貝原則：要求在測量過程中被測長度與基準長度應安置在同一直線上的原則。若被測長度與基準長度并排放置，在測量比較過程中由于制造誤差的存在，移動方向的偏移，兩長度之間出現夾角而產生較大的誤差。誤差的大小除與兩長度之間夾角大小有關外，還與其之間距離大小有關，距離越大，誤差也越大。
（2）基準統一原則：測量基準要與加工基準和使用基準統一。即工序測量應以工藝基準作為測量基準，終檢測量應以設計基準作為測量基準。
2、短鏈原則
在間接測量中，與被測量具有函數關系的其它量與被測量形成測量鏈。形成測量鏈的環節越多，被測量的不確定度越大。因此，應盡可能減少測量鏈的環節數，以保證測量精度，稱之為短鏈原則。當然，按此原則不采用間接測量，而采用直接測量。所以，只有在不可能采用直接測量，或直接測量的精度不能保證時,才采用間接測量。應該以少數目的量塊成所需尺寸的量塊組，就是短鏈原則的一種實際應用。
3、小變形原則
測量器具與被測零件都會因實際溫度偏離標準溫度和受力（重力和測量力）而產生變形，形成測量誤差。在測量過程中，控制測量溫度及其變動、保證測量器具與被測零件有足夠的等溫時間、選用與被測零件線脹系數相近的測量器具、選用適當的測量力并保持其穩定、選擇適當的支承點等，都是實現小變形原則的有效措施。
服務熱線：0574-87192425
更新時間：2019-08-09 
瀏覽次數：1998
產品分類
您的位置：